【 即将举行的座谈 】：
简化DDR调试和验证测试
【 时 间 】：2008-4-17 10:00-12:00
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| 【 座谈简介 】： |
您是否在为存储系统设计和测试流程寻找新的平台？试试泰克完善的测试和测量工具系列，它们将帮助您更迅速识别和解决极具挑战性的设计问题。
人们对速度更快、能耗更低、容量更高、物理尺寸更小的嵌入式和计算机存储器的需求不断提高。这要求测试仪器拥有杰出的信号捕获功能、测量精度、强大的触发和高性能探测功能才能胜任存储系统验证和调试的挑战。泰克为SDRAM、存储控制器、计算机主板和嵌入式系统提供了强大而完善的测试仪器系列，可以支持DDR3-1600及以上的速度。
在本次研讨会中，针对各种速度的DDR SDRAM数据、命令和信号完整性测试，我们将向您介绍来自泰克的强大的、完善的解决方案。包括针对DDR信号路径检定和电路板检验的采样示波器方案；针对DDR模拟电气特征调试的实时示波器和自动测试软件方案；针对DDR数字特征调试的逻辑分析仪方案和针对各种DDR类型的有源、无源探测方案。
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