【 即将举行的座谈 】：如何应对RFID 的测试挑战
【 时 间 】：2008-11-28 10:00-12:00
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| 【 座谈简介 】： |
众所周知，RFID信号具备脉冲性、跳频 、ASK 或 FSK调制、及多种编码方式的特点，而随着RFID的日益发展，如何方便和有效的测试正变得越来越显著和重要，这给传统的测试方法和测试仪器带来了新的挑战。
针对于目前RFID测试领域的挑战，泰克公司专门推出了新一代的实时频谱仪。这种实时频谱仪不仅可以实时捕获瞬态RFID信号，自动分析所有测试项目，支持包括ISO18000-7在内的所有通用RFID标准，同时独有的DPX（数字荧光技术）和FMT（频率模板触发）功能为查找问题和现场性能提供了更为方便和有效的测试手段。
泰克公司此次关于“如何应对RFID 的测试挑战”的介绍主要包括以下内容：
1. RFID简介，主要针对18000-6c 和18000-7
2. RFID在实际工作环境中的性能测试
3. RFID标准信号测试及协议测试
4. RFID认证测试系统
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